伏安法測電阻實驗的數(shù)據(jù)處理

對伏安法測電阻實驗的數(shù)據(jù)處理進行了系統(tǒng)研究,分析了采用非等精度數(shù)據(jù)處理方法進行數(shù)據(jù)處理的依據(jù),介紹了使用該方法的基本步驟,并舉例說明.

作 者： 姚展 任惠娟 YAO Zhan REN Hui-juan   作者單位： 成陽師范學院物理系,陜西,咸陽,712000  刊 名： 武漢工程大學學報  ISTIC 英文刊名： JOURNAL OF WUHAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY  年，卷(期)： 2009 31(9)  分類號： O4-34  關鍵詞： 伏安法   不確定度   非等精度測量  

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